由于絕(jue)緣(yuan)電阻測(ce)(ce)量(liang)的(de)局限性，所(suo)以在(zai)絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗(yan)中就(jiu)出(chu)現了測(ce)(ce)量(liang)泄(xie)漏電流的(de)項目。關于泄(xie)漏電流 （ｉＬ） 的(de)概念在(zai)上節中已加以說明。測(ce)(ce)量(liang)泄(xie)漏電流所(suo)用的(de)設(she)備要比兆歐表復雜，一般用直流高壓發生器進(jin)行(xing)測(ce)(ce)試(shi)。

由(you)于試驗電(dian)(dian)壓高(gao)，所以就容(rong)易暴露絕緣本身的弱點，用微安表直測泄漏電(dian)(dian)流，這可以做到隨時(shi)進(jin)行監視，靈(ling)敏度高(gao)。并且可以用電(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)流、電(dian)(dian)流和時(shi)間的關系曲線來(lai)判斷絕緣的缺(que)陷。因此，它屬于非破壞性(xing)試驗的方法。

    直流耐壓(ya)試(shi)(shi)驗(yan)往往可以(yi)發現一(yi)些交(jiao)流耐壓(ya)試(shi)(shi)驗(yan)中不(bu)易發現的(de)(de)局(ju)部(bu)缺(que)陷(xian)，如發電機的(de)(de)端部(bu)絕緣缺(que)陷(xian)，同時還具有試(shi)(shi)驗(yan)設(she)備較輕便，沒有極化(hua)損(sun)失，對絕緣的(de)(de)破壞比交(jiao)流電壓(ya)要小得(de)多等特點(dian)，所以(yi)得(de)到了(le)廣泛的(de)(de)使(shi)用(yong)。它是屬于破壞性的(de)(de)試(shi)(shi)驗(yan)。它和交(jiao)流耐壓(ya)試(shi)(shi)驗(yan)是互(hu)補的(de)(de)，不(bu)能互(hu)相代替。而試(shi)(shi)驗(yan)電壓(ya)值對各種電氣設(she)備是不(bu)同的(de)(de)。

試驗原理：

由(you)上(shang)節所述，將(jiang)直(zhi)流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓加(jia)到(dao)絕(jue)(jue)緣上(shang)時，其泄(xie)(xie)(xie)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)是(shi)不衰減的，在加(jia)壓到(dao)一定(ding)時間以(yi)后，微安表的讀數就等于泄(xie)(xie)(xie)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)值。絕(jue)(jue)緣良(liang)好時，泄(xie)(xie)(xie)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)和電(dian)(dian)(dian)壓的關(guan)系幾(ji)乎呈(cheng)一直(zhi)線，且上(shang)升較小；絕(jue)(jue)緣受潮時，泄(xie)(xie)(xie)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)則上(shang)升較大；當絕(jue)(jue)緣有(you)貫通性缺陷時，泄(xie)(xie)(xie)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)將(jiang)猛增，和電(dian)(dian)(dian)壓的關(guan)系就不是(shi)直(zhi)線了。因(yin)此，通過泄(xie)(xie)(xie)漏(lou)(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)和電(dian)(dian)(dian)壓之間變化的關(guan)系曲線就可以(yi)對(dui)絕(jue)(jue)緣狀態進行(xing)分(fen)析判斷(duan)。

試(shi)驗裝置的原理接線：

位置I：微安表處于高電位，測量準確(que)，但(dan)微安表對地絕緣(yuan)應(ying)良好。

測量泄漏電流(liu)和直流(liu)耐壓（試驗接線圖）

Ｔ１ －自耦變(bian)壓(ya)器(qi)；Ｔ２ －升壓(ya)變(bian)壓(ya)器(qi)；Ｖ －高(gao)壓(ya)整(zheng)流硅堆(dui)；Ｒ １ －保護電(dian)阻；

μＡ －微安表(biao)；Ｃ －穩(wen)壓(ya)(ya)電容器；ｍ Ａ －測(ce)壓(ya)(ya)用毫(hao)安表(biao)；Ｒ －測(ce)壓(ya)(ya)用電阻；Ｃ ｘ －被試品；ｒ －保護電阻

位(wei)置Ⅱ：微安表處于低電位(wei)，讀數方便，但(dan)測量(liang)有誤差。

位置Ⅲ：微安表處于低電(dian)位，讀(du)數方便(bian)， 測(ce)量準 確，但被(bei) 試品下(xia) 端不能 直接 接地，

這(zhe)是優先采用的位置。

影響因素和分析判斷

影響因素

（1） 溫度的影響。當(dang)溫度升(sheng)高時，泄漏電(dian)流增大，所(suo)以在 《電(dian)力(li)設備預防性試驗規程》 中(zhong)規定發電(dian)機在停機后清除(chu)污穢(hui)前熱狀態(tai)下進(jin)(jin)行(xing)。處于(yu)備用狀態(tai)時，可(ke)在冷態(tai)下進(jin)(jin)行(xing) （應在＋５ ℃以上進(jin)(jin)行(xing)）。

（2）表(biao)面(mian)污染的影響(xiang)。由于(yu)實測的泄(xie)(xie)漏電(dian)流(liu)應該是(shi)容積泄(xie)(xie)漏電(dian)流(liu)，所(suo)以(yi)應對被試設備的表(biao)面(mian)應進(jin)行(xing)清掃和干燥，以(yi)消除(chu)表(biao)面(mian)泄(xie)(xie)漏電(dian)流(liu)的影響(xiang)，也(ye)可(ke)采用(yong)屏蔽環(huan)將表(biao)面(mian)泄(xie)(xie)漏電(dian)流(liu)短路而(er)不流(liu)過微安(an)表(biao)。

（3）加(jia)(jia)壓速(su)度(du)的影(ying)響。加(jia)(jia)壓速(su)度(du)過快，將影(ying)響吸收過程的完成，對電(dian)(dian)容量大的設(she)備(bei)(bei)就(jiu)有影(ying)響。在(zai) 《電(dian)(dian)力設(she)備(bei)(bei)預 防性(xing)試(shi) 驗規程》 中規 定試(shi)驗 電(dian)(dian)壓按 每級 ０．５ｕ ｎ（ｕｐ ：額 定線電(dian)(dian)壓） 分階段升高，每階段停(ting)留１ ｍｉｎ 。

（4）微安(an)表(biao)位置和高壓連(lian)線(xian)的(de)影(ying)響(xiang)。這(zhe)主要是(shi)雜散電(dian)流(liu)和電(dian)暈電(dian)流(liu)的(de)影(ying)響(xiang)。應(ying)按(an)制造廠(chang)說明(ming)書接(jie)線(xian)及(ji)加屏蔽。

（5）試驗(yan)(yan)(yan)電壓波形(xing)和極(ji)性的(de)影響。要求(qiu)試驗(yan)(yan)(yan)電壓的(de)電源波形(xing)是正弦(xian)波形(xing)（交 流(liu)）。對油紙絕緣用(yong)(yong)負極(ji)性試驗(yan)(yan)(yan)易(yi)于發現絕緣缺(que)陷；對少油斷路器等泄漏電流(liu)較小的(de)設(she)備可采用(yong)(yong)正極(ji)性試驗(yan)(yan)(yan)電壓。按(an) 《電力設(she)備預防(fang)性試驗(yan)(yan)(yan)規程》 要求(qiu)，一(yi)般情況下應采用(yong)(yong)負極(ji)性接線(xian)。

（6）濕(shi)度影(ying)響。和絕緣電阻相似，應在空(kong)氣(qi)相對濕(shi)度80 ％以下進(jin)行。